材料光学测量设备
量子效率测定系统QE-2000产品介绍测得量子效率(量子产额)后 — — 就可以进行荧光体的性能评价量子效率测量系统“QE-2000”是一种测量量子效率(量子产额)的装置。将试料放置在固定治具上之后, 按照专业软件的指示...
对于具有波长依赖性的多层膜,可以实现高精度测量!膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程???,多...
小型?低价格!简单操作”非接触”膜厚量测仪FE-300!膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型?低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性最小二...
可完美对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。高精度,高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚...
通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析可对应各种选配,膜厚的特制解析椭圆偏振光测量仪FE5000应用范围 FPD LCD,PDP,FED,有机El半导体a-Si,poly-Si,其他复...
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